静电组装法在纳米SiO2表面构筑高分子刷的合成与表征（英文）
来源期刊：材料科学与工程学报2008年第6期
论文作者：史博 章永化 石耀刚 王建华
文章页码：847 - 851
关键词：高分子刷;静电组装;端功能化聚苯乙烯;二氧化硅;
摘 要：本文采用静电自组装技术在表面阳离子化的SiO2粒子（SiO2-CBAFS）上构筑了高分子刷,并采用核磁、红外、热失重、接触角和原子力显微镜分别表征了组装粉体的结构、组装量以及自组装单层膜的组装行为和表面拓扑形貌。研究结果表明,采用静电自组装技术可以成功地在SiO2-CBAFS上构筑组装量高达27%的高分子刷,远远高于国际上已见报道的采用共价键合法构筑的高分子刷的组装量（20%）。研究发现,组装量随聚合物（PS-NH-SO3Na）分子量呈非线性增长,其组装行为受到PS-NH-SO3Na的分子量和溶液浓度的影响。
史博1，章永化1，石耀刚2，王建华2
1. 华南理工大学高分子系2. 中国工程物理研究院
摘 要：本文采用静电自组装技术在表面阳离子化的SiO2粒子（SiO2-CBAFS）上构筑了高分子刷,并采用核磁、红外、热失重、接触角和原子力显微镜分别表征了组装粉体的结构、组装量以及自组装单层膜的组装行为和表面拓扑形貌。研究结果表明,采用静电自组装技术可以成功地在SiO2-CBAFS上构筑组装量高达27%的高分子刷,远远高于国际上已见报道的采用共价键合法构筑的高分子刷的组装量（20%）。研究发现,组装量随聚合物（PS-NH-SO3Na）分子量呈非线性增长,其组装行为受到PS-NH-SO3Na的分子量和溶液浓度的影响。
关键词：高分子刷;静电组装;端功能化聚苯乙烯;二氧化硅;
