用扫描电镜分析铜阀门渗漏原因
来源期刊：理化检验物理分册2010年第2期
论文作者：刘照斌
文章页码：143 - 144
关键词：扫描电镜;X射线能谱仪;渗漏;
摘 要：采用扫描电子显微镜及其附带的X射线能谱仪对某水压试验时发生渗漏铜阀门的渗漏原因进行了分析。结果表明:制造铜阀门的材质本身存在缺陷,主要是铅发生了大量偏析,造成材料局部区域铅含量偏高,同时在其周围形成了显微疏松、孔洞等缺陷,缺陷使得铜阀门强度降低,所以在压力加大的情况下,水就很容易从此区域发生渗漏。
刘照斌
辽宁师范大学实验中心
摘 要：采用扫描电子显微镜及其附带的X射线能谱仪对某水压试验时发生渗漏铜阀门的渗漏原因进行了分析。结果表明:制造铜阀门的材质本身存在缺陷,主要是铅发生了大量偏析,造成材料局部区域铅含量偏高,同时在其周围形成了显微疏松、孔洞等缺陷,缺陷使得铜阀门强度降低,所以在压力加大的情况下,水就很容易从此区域发生渗漏。
关键词：扫描电镜;X射线能谱仪;渗漏;
