并联电容对正接法测量高压电气设备介质损耗值的影响分析
来源期刊：绝缘材料2010年第6期
论文作者：吴永恒
文章页码：65 - 68
关键词：介损;接触电阻;修正公式;等值电路;
摘 要：介质损耗试验时,传统做法和理论分析均采用正接法,因为正接法对并联在被试设备两端的电容有良好的屏蔽作用。但试验发现并联电容易造成介损值偏大。通过试验和理论分析发现,由于套管氧化层电阻的影响。如果在回路中串联了接触电阻,则并联在被试设备两端的电容就会对整个测量系统造成影响,且电容量在回路中占总电容量的比例越大,对介损值的影响也就越大。
吴永恒
嘉兴市恒光电力建设有限公司
摘 要：介质损耗试验时,传统做法和理论分析均采用正接法,因为正接法对并联在被试设备两端的电容有良好的屏蔽作用。但试验发现并联电容易造成介损值偏大。通过试验和理论分析发现,由于套管氧化层电阻的影响。如果在回路中串联了接触电阻,则并联在被试设备两端的电容就会对整个测量系统造成影响,且电容量在回路中占总电容量的比例越大,对介损值的影响也就越大。
关键词：介损;接触电阻;修正公式;等值电路;
