基于边带-频率调制的磁力显微镜技术研究

李正华¹，李翔²，乔亮³

1. 大连民族大学物理与材料工程学院2. 上海理工大学材料科学与工程学院3. 兰州大学物理科学与技术学院

摘 要：基于磁探针的边带-频率调制机理,建立了高频场磁力显微镜方法（high frequency field magnetic force microscopy method,HFF-MFM）,实现了对高频磁场的动态观测。首先建立了MFM探针的力学、磁学模型,依据MFM探针的频谱测量结果,系统研究了MFM探针的边带-频率调制机理;其次,利用高频信号处理模块对探针的调制信号进行解调、提取,理论分析结合实验设计,完成了对高频磁场的直接测量。实现对纳米结构中1MHz以上磁场的直接测量。该方面的工作是MFM研究领域的一个重要进展,为进一步发展纳米尺度磁畴结构的相关精密测量技术奠定了基础。

关键词：磁力显微镜;边带-频率调制;高频磁场测量;