简介概要

COB封装中芯片在基板不同位置的残余应力

来源期刊：功能材料与器件学报2002年第4期

论文作者：黄卫东蒋玉齐罗乐孙志国

关键词：硅压阻传感器; 残余应力; 位置; 失效;

摘要：利用硅压阻力学芯片传感器作为原位监测的载体,研究了直接粘贴芯片的封装方式中,芯片在基板上的不同位置对于封装后残余应力的影响以及在热处理过程中残余应力的变化,发现粘贴在基板靠近边的位置和中心位置时应力水平接近,但是靠近基板一角的位置应力较大,而且在热处理过程中应力出现"突跳"和"尖点".

详情信息展示

黄卫东¹，蒋玉齐¹，罗乐¹，孙志国¹

(1.中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050)

摘要:利用硅压阻力学芯片传感器作为原位监测的载体,研究了直接粘贴芯片的封装方式中,芯片在基板上的不同位置对于封装后残余应力的影响以及在热处理过程中残余应力的变化,发现粘贴在基板靠近边的位置和中心位置时应力水平接近,但是靠近基板一角的位置应力较大,而且在热处理过程中应力出现"突跳"和"尖点".

关键词:硅压阻传感器; 残余应力; 位置; 失效;

【全文内容正在添加中】