锡（Ⅱ）在壳聚糖-多壁碳纳米管修饰玻碳电极上的电化学行为及其测定

来源期刊：冶金分析2013年第1期

论文作者：齐同喜 齐蕾

文章页码：17 - 21

关键词：壳聚糖;多壁碳纳米管;修饰玻碳电极;锡(Ⅱ);

摘    要：制备了壳聚糖（CTS）-多壁碳纳米管（MWCNT）修饰玻碳（GCE）电极,利用差分脉冲溶出伏安法研究了锡（Ⅱ）在该电极上的电化学行为,探讨了电极反应机理。在优化测定条件的基础上,提出了一种测定痕量锡（Ⅱ）的新方法。在1.0mol/L的盐酸溶液中,于-1 000mV电位处锡（Ⅱ）被富集在修饰电极表面,在-1 000～0.00mV电位范围内,以800mV/s的扫描速率,锡（Ⅱ）在-630mV电位处产生一灵敏的溶出峰,峰电流与锡（Ⅱ）的浓度在4.2×10-8～1.3×10-5 mol/L范围内呈良好的线性关系,检出限（S/N=3）为3.1×10-9 mol/L。方法应用于生铁和合金钢样品中痕量锡（Ⅱ）的测定,结果与火焰原子吸收光谱法（FAAS）的测定结果基本一致。