X射线荧光光谱无标定量测定稀土矿石中五氧化二磷

于丽丽^1,2，汤玉和^1,2，肖飞燕^1,2，胡洁^1,2

1. 广东省资源综合利用研究所2. 稀有金属分离与综合利用国家重点实验室

摘 要：利用粉末压片法制备样品,通过在Omnian无标定量分析软件中添加与待测组分相似样品来建立标签,可校正粉末样品可能存在的矿物效应、颗粒效应及制样引进的误差,从而实现X射线荧光光谱法(XRF)对稀土矿物中P2O5的准确测定。通过试验确定了压片制样的最佳制样条件为:样品粒度小于0.074mm、压力为40t、称样量为6.00g和保压时间为30s。对含不同梯度含量P2O5的稀土矿石进行正确度考察,发现以Omnian软件未添加标签而直接测定的P2O5结果差值较大,而Omnian添加标签的分析结果与国家标准方法的分析结果基本吻合;精密度试验表明,P2O5测定结果的相对标准偏差(RSD,n=8)小于3%。无需大量的标样建立校准曲线,能满足稀土矿石含磷量的精确分析要求。

关键词：X射线荧光光谱法(XRF);无标定量;标签;五氧化二磷;稀土矿石;