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晶须掺杂交联聚苯乙烯复合材料的制备及沿面闪络性能研究

来源期刊:绝缘材料2020年第7期

论文作者:刘文元 赵小什 段荔 柯昌凤 霍艳坤 陈昌华

文章页码:18 - 22

关键词:真空沿面闪络;氧化锌晶须;硫酸镁晶须;交联聚苯乙烯;

摘    要:以交联聚苯乙烯(CLPS)为基体,分别用四针状氧化锌(T-ZnO)晶须和碱式硫酸镁(MOS)晶须掺杂改性,制备了两类晶须/交联聚苯乙烯复合材料。研究了晶须掺杂对复合材料结构、表面电阻率及真空沿面闪络性能的影响。结果表明:T-ZnO晶须的加入降低了复合材料的表面电阻率,而MOS晶须的加入对复合材料的表面电阻率几乎没有影响;当MOS晶须质量分数为2%时,复合材料的真空沿面闪络击穿电压较CLPS提升了40%,而T-ZnO晶须的加入降低了复合材料的真空沿面闪络电压。

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晶须掺杂交联聚苯乙烯复合材料的制备及沿面闪络性能研究

刘文元1,赵小什2,段荔1,柯昌凤1,霍艳坤1,陈昌华1

1. 西北核技术研究所2. 湘潭大学

摘 要:以交联聚苯乙烯(CLPS)为基体,分别用四针状氧化锌(T-ZnO)晶须和碱式硫酸镁(MOS)晶须掺杂改性,制备了两类晶须/交联聚苯乙烯复合材料。研究了晶须掺杂对复合材料结构、表面电阻率及真空沿面闪络性能的影响。结果表明:T-ZnO晶须的加入降低了复合材料的表面电阻率,而MOS晶须的加入对复合材料的表面电阻率几乎没有影响;当MOS晶须质量分数为2%时,复合材料的真空沿面闪络击穿电压较CLPS提升了40%,而T-ZnO晶须的加入降低了复合材料的真空沿面闪络电压。

关键词:真空沿面闪络;氧化锌晶须;硫酸镁晶须;交联聚苯乙烯;

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