X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数
来源期刊：宇航材料工艺2010年第2期
论文作者：郑斌 冯志海 李仲平 王晓叶 李同起
关键词：X射线衍射仪; 全谱拟合法; 点阵常数; 石墨化度; 微晶参数; X-ray diffraction; Rietveld refinement method; Lattice constant; Graphitization degree; Crystallite sizes;
摘 要：利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.
郑斌1，冯志海1，李仲平1，王晓叶1，李同起1
(1.航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076)
摘要:利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.
关键词:X射线衍射仪; 全谱拟合法; 点阵常数; 石墨化度; 微晶参数; X-ray diffraction; Rietveld refinement method; Lattice constant; Graphitization degree; Crystallite sizes;
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