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某发射筒端盖密封失效分析

来源期刊：理化检验物理分册2019年第10期

论文作者：柯贤朝林彬杨薛军蔡玄龙李小慧

文章页码：730 - 732

关键词：发射筒端盖;裂纹;密封性;机械失效;

摘要：某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析。结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1mm,可有效避免此类失效的发生。

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柯贤朝¹，林彬¹，杨薛军²，蔡玄龙¹，李小慧¹

1. 上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室2. 空装驻上海地区第一军事代表室

关键词：发射筒端盖;裂纹;密封性;机械失效;