X射线荧光光谱法测定废旧电子元器件中的金
来源期刊：黄金2016年第7期
论文作者：史有俊 付永立 赵丙辉 刘博雅 赵烨
文章页码：84 - 87
关键词：X射线荧光光谱法;基体;废旧电子元件;分析测定;金;
摘 要：将一定量废旧电子元器件溶解后的含金溶液加入到人工配制的基体中,制成X射线荧光分析样片,使其基体组成相近,消除了基体效应,提高了分析的精密度和准确度。与化学分析方法(氢醌容量法)测定结果相比,该方法具有简单快速、准确度高、测定成本低等特点,可替代化学分析方法。
史有俊，付永立，赵丙辉，刘博雅，赵烨
河北省地矿中心实验室
摘 要：将一定量废旧电子元器件溶解后的含金溶液加入到人工配制的基体中,制成X射线荧光分析样片,使其基体组成相近,消除了基体效应,提高了分析的精密度和准确度。与化学分析方法(氢醌容量法)测定结果相比,该方法具有简单快速、准确度高、测定成本低等特点,可替代化学分析方法。
关键词：X射线荧光光谱法;基体;废旧电子元件;分析测定;金;
