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ICP-AES法测定普碳钢和低合金钢中As,Sn,Pb,Sb,Bi

来源期刊:冶金分析2005年第2期

论文作者:关剑侠

关键词:氢化物发生; 电感耦合等离子体发射光谱分析; 干扰;

摘    要:利用气动雾化氢化物装置,选择5 g/L硫脲+5 g/L抗坏血酸+2 g/L碘化钾作为有效的还原抑制剂,建立了分析As,Sn,Pb,Sb,Bi的方法.在选定的条件下测得As,Sn,Pb,Sb,Bi检出限分别为0.006 1,0.083 6,0.070 4,0.007 3,0.020 6 μg/mL.

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ICP-AES法测定普碳钢和低合金钢中As,Sn,Pb,Sb,Bi

关剑侠1

(1.包钢(集团)公司薄板坯连铸连轧厂,内蒙古,包头,014010)

摘要:利用气动雾化氢化物装置,选择5 g/L硫脲+5 g/L抗坏血酸+2 g/L碘化钾作为有效的还原抑制剂,建立了分析As,Sn,Pb,Sb,Bi的方法.在选定的条件下测得As,Sn,Pb,Sb,Bi检出限分别为0.006 1,0.083 6,0.070 4,0.007 3,0.020 6 μg/mL.

关键词:氢化物发生; 电感耦合等离子体发射光谱分析; 干扰;

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