简介概要

无机质谱法在固体直接分析中的应用

来源期刊:中国无机分析化学2011年第1期

论文作者:张伯超 杭纬 黄本立

文章页码:13 - 23

关键词:无机质谱法;固体分析;应用;

摘    要:本文归纳了无机质谱法在固体直接分析中的应用,并详细阐述了辉光放电质谱法(GDMS)、二次离子质谱法(SIMS)、激光溅射电感耦合等离子体质谱法(LA-ICPMS)和激光电离质谱法(LIMS)四种可用于固体样品直接检测的无机质谱法的检测原理、应用以及各自的优缺点。

详情信息展示

无机质谱法在固体直接分析中的应用

张伯超,杭纬,黄本立

厦门大学化学化工学院

摘 要:本文归纳了无机质谱法在固体直接分析中的应用,并详细阐述了辉光放电质谱法(GDMS)、二次离子质谱法(SIMS)、激光溅射电感耦合等离子体质谱法(LA-ICPMS)和激光电离质谱法(LIMS)四种可用于固体样品直接检测的无机质谱法的检测原理、应用以及各自的优缺点。

关键词:无机质谱法;固体分析;应用;

<上一页 1 下一页 >

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号