纳米钨粉粒度分布的表征研究
来源期刊：上海金属2007年第4期
论文作者：邵光杰 刘一雄 朱丽慧
关键词：纳米钨粉; 粒度分布; X射线小角散射; 光子相关谱法;
摘 要：采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布.结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小.PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布.
邵光杰1，刘一雄2，朱丽慧1
(1.上海大学材料科学与工程学院,上海,200072;
2.Kennametal Inc.)
摘要:采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布.结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小.PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布.
关键词:纳米钨粉; 粒度分布; X射线小角散射; 光子相关谱法;
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