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透明矿物折射率测定中的光率体方位问题

来源期刊:云南冶金1979年第1期

论文作者:陈纪欣

文章页码:46 - 52

摘    要:<正> 偏光显微镜下测定透明矿物的光学性质和光学常数,已有悠久的历史,其方法也日益发展和完善。这同其他一切事物的发展一样,经历着逐步深化的过程,其中也同样存在各种不同认识水平的发展阶段。早在1896年就提出用二轴台获得消光曲线(方位)的方法,但是后来他又把二轴台发展为五轴台(万能旋转台)。近年来又有人提出六轴台,以及在五轴台中加旋转针等。在另一方面N.Joel等仅用一根简单的带有度盘的转针(或称轴台、旋针)解决了晶体光率体定位、折射率和光轴角测定等问题,以及仅用四个消光位作图获得光率体方位和光轴角值。更有人将旋针与电子计算机联用解决光率体定位、折射率和光轴角测定。有鉴于此,在透明矿物显微镜鉴定中应首先充分发挥偏光显微镜的作用,并使矿物光性鉴定和光学常数测定的设备和程序尽可能简化、方便易行。因而在转针基础上探讨晶体光率体方位和折射率变化之间的数学关系,以期

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透明矿物折射率测定中的光率体方位问题

陈纪欣

摘 要:<正> 偏光显微镜下测定透明矿物的光学性质和光学常数,已有悠久的历史,其方法也日益发展和完善。这同其他一切事物的发展一样,经历着逐步深化的过程,其中也同样存在各种不同认识水平的发展阶段。早在1896年就提出用二轴台获得消光曲线(方位)的方法,但是后来他又把二轴台发展为五轴台(万能旋转台)。近年来又有人提出六轴台,以及在五轴台中加旋转针等。在另一方面N.Joel等仅用一根简单的带有度盘的转针(或称轴台、旋针)解决了晶体光率体定位、折射率和光轴角测定等问题,以及仅用四个消光位作图获得光率体方位和光轴角值。更有人将旋针与电子计算机联用解决光率体定位、折射率和光轴角测定。有鉴于此,在透明矿物显微镜鉴定中应首先充分发挥偏光显微镜的作用,并使矿物光性鉴定和光学常数测定的设备和程序尽可能简化、方便易行。因而在转针基础上探讨晶体光率体方位和折射率变化之间的数学关系,以期

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