X-荧光仪在铝工业分析中的应用
来源期刊：轻金属2014年第5期
论文作者：袁艺
文章页码：43 - 99
关键词：X荧光仪;铝合金;基体效应;
摘 要：利用X荧光仪分析铝及铝合金中的杂质含量,对测试条件的选择、标准曲线的绘制、基体效应的校正、方法准确度、精密度几个方面进行了研究。生产实践证明:用X荧光仪测定铝及铝合金中铁、硅、锰、锌、钛、镁六种元素含量的相对标准偏差(n=10)在0.09%~3.36%之间。X射线荧光光谱分析方法精密度高、准确度高、简便、快速,分析成本低,在铝工业中完全可以应用于实际分析,是分析检测发展的重要方向。
袁艺
贵州理工学院材料与冶金工程学院
摘 要：利用X荧光仪分析铝及铝合金中的杂质含量,对测试条件的选择、标准曲线的绘制、基体效应的校正、方法准确度、精密度几个方面进行了研究。生产实践证明:用X荧光仪测定铝及铝合金中铁、硅、锰、锌、钛、镁六种元素含量的相对标准偏差(n=10)在0.09%~3.36%之间。X射线荧光光谱分析方法精密度高、准确度高、简便、快速,分析成本低,在铝工业中完全可以应用于实际分析,是分析检测发展的重要方向。
关键词：X荧光仪;铝合金;基体效应;
