衍射线宽化的线形分析和微结构表征

来源期刊：理化检验物理分册2014年第9期

论文作者：杨传铮 姜传海

文章页码：658 - 1358

关键词：线形分析;微晶尺度;微观应力;层错;位错;XRD;最小二乘方法;

摘    要：引起衍射线条宽化的不仅是微晶和第Ⅱ类（微观）应力,还有层错/孪生和位错。围绕着如何分离这种多（二、三乃至四）重宽化效应和如何求解微晶尺度、微观应变（力）、层错几率、层错密度和位错分布参数等,发展了一系列线形分析方法。从线形卷积关系、微晶-微应变宽化线形分析、微晶-微应力-层错宽化线形分析和微晶-层错-位错宽化线形分析共4个部分介绍了线形分析技术的发展和应用,以及笔者近十年进行的某些研究工作。