Cu覆盖层对CoCrPt颗粒膜的微结构和磁特性的影响
来源期刊：功能材料2006年第4期
论文作者：苏振访 封顺珍 胡骏 许佳玲 孙会元
关键词：磁记录; 纳米颗粒膜; 矫顽力; 垂直各向异性;
摘 要：在室温下,应用对靶磁控溅射设备制备了系列Cu(x nm)/CoCrPt(40nm)/Cu(20nm)三明治结构的纳米颗粒膜,随后进行了原位退火.实验发现Cu覆盖层的厚度(x)对颗粒膜的微结构和磁特性有很大影响.样品垂直方向的矫顽力在x=11nm时达到最大,为138kA/m,平行于膜面方向的矫顽力基本上与x的变化无关,且所有的样品都显示出很强的垂直各向异性.退火后的CoCrPt薄膜呈六角密堆积(HCP)结构,AFM和MFM测量显示在x=11nm时,颗粒的平均粒径和磁畴尺寸均为最小.开关场分布(SFD)的测量表明,退火有效地减弱了颗粒间的交换耦合作用.
苏振访1，封顺珍1，胡骏1，许佳玲1，孙会元1
(1.河北师范大学,物理科学与信息工程学院,河北,石家庄,050016;
2.中国科学院固体物理研究所材料物理重点实验室,安徽,合肥,230031)
摘要:在室温下,应用对靶磁控溅射设备制备了系列Cu(x nm)/CoCrPt(40nm)/Cu(20nm)三明治结构的纳米颗粒膜,随后进行了原位退火.实验发现Cu覆盖层的厚度(x)对颗粒膜的微结构和磁特性有很大影响.样品垂直方向的矫顽力在x=11nm时达到最大,为138kA/m,平行于膜面方向的矫顽力基本上与x的变化无关,且所有的样品都显示出很强的垂直各向异性.退火后的CoCrPt薄膜呈六角密堆积(HCP)结构,AFM和MFM测量显示在x=11nm时,颗粒的平均粒径和磁畴尺寸均为最小.开关场分布(SFD)的测量表明,退火有效地减弱了颗粒间的交换耦合作用.
关键词:磁记录; 纳米颗粒膜; 矫顽力; 垂直各向异性;
【全文内容正在添加中】
