单晶材料X射线应力测定原理与方法

陈艳华^1,2，须庆¹，姜传海¹，嵇宁³

1. 上海交通大学材料科学与工程学院2. 新疆大学物理科学与技术学院3. 巴黎十一大分子化学和材料学院

摘 要：结合单晶X射线应力测定基本原理,通过必要的理论分析,对现有单晶应力测定方法进行必要的改进和优化。基于工程实际应用需要,精简了单晶应力测定步骤并拓宽其应用范围,即不需要事先精确已知2θ0,只需改变空间方位角ψ和φ,再通过多元线形回归分析方法即可计算出各应力分量。最后给出了单晶应力测定的典型实例,即对同一部位重复测定应力,证实测量误差不超过±20MPa,说明该方法具有较高的测量精度和可靠性。

关键词：单晶材料;X射线衍射;残余应力测定;