金属微粒和臭氧处理对GIS用盆式绝缘子闪络电压的影响

来源期刊：绝缘材料2019年第4期

论文作者：杨保利 韩丽娟 郝留成 田浩 钟建英 王亚祥 袁端鹏

文章页码：33 - 80

关键词：盆式绝缘子;SF₆;金属微粒;臭氧处理;标准雷电波;闪络电压;

摘    要：在SF6气氛中研究金属微粒和臭氧处理对110 kV气体绝缘金属封闭开关(GIS)盆式绝缘子闪络电压的影响。结果表明:绝缘子沿着附着在其表面上的金属微粒发生闪络,闪络痕迹明显。绝缘子未经处理时,闪络电压随金属微粒长度的增加而迅速下降。金属微粒长度增加到8 mm时,闪络电压下降趋势变缓。金属微粒靠近中心导体时,其对绝缘子闪络电压的影响较大。距中心导体0 mm时,闪络电压最小。臭氧处理后的绝缘子与未处理的绝缘子呈现出相似的闪络特性,但处理后的绝缘子闪络电压提高了约18.5%。臭氧处理可以改善绝缘子表面的陷阱特性,加快绝缘子表面电荷消散速率,提高绝缘子的闪络电压。550 k V正极性雷电冲击波无法检测出微小金属微粒的存在,也无法检测出靠近中心导体或稍远区域金属微粒的存在。