X光小角散射测定超细颗粒物体粒度分布的几种解析法比较
来源期刊：江西冶金1984年第2期
论文作者：陈癸尊 应晓 张流生 谢达材
文章页码：36 - 56
摘 要：<正> 一、引言 X光小角散射法是目前测定超细颗粒物体粒度分布的一种有效方法。使用波长为埃(A)数量级的单色X射线(如铜靶的X光管发出的X光波长为1.54A,铁靶为1.94A)可以测定粒度在数十埃至数千埃范围的超细颗粒物体的粒度分布。 X射线是一种电磁波,它通过电荷密度不均匀的空间区域就会发生散射。只要超细颗粒与周围介质的电荷密度有差别,都会发
陈癸尊，应晓，张流生，谢达材
摘 要：<正> 一、引言 X光小角散射法是目前测定超细颗粒物体粒度分布的一种有效方法。使用波长为埃(A)数量级的单色X射线(如铜靶的X光管发出的X光波长为1.54A,铁靶为1.94A)可以测定粒度在数十埃至数千埃范围的超细颗粒物体的粒度分布。 X射线是一种电磁波,它通过电荷密度不均匀的空间区域就会发生散射。只要超细颗粒与周围介质的电荷密度有差别,都会发
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