LuAG:Ce,Mg闪烁陶瓷的X射线平板探测器成像研究
来源期刊：无机材料学报2015年第8期
论文作者：胡辰 刘书萍 冯召东 秦秀波 石云 潘裕柏
文章页码：814 - 818
关键词：LuAG:Ce,Mg;闪烁陶瓷;平板探测器;X射线成像;
摘 要：采用固相反应法结合真空烧结技术制备了具有高光学质量高闪烁效率的(Lu,Ce,Mg)3Al5O12(LuAG:0.3at%Ce,0.2at%Mg)闪烁陶瓷。将20 mm×20 mm×0.05 mm的陶瓷薄片用含有石墨粉的硅胶粘接在尺寸为25 mm×25 mm×4 mm的石墨基底上,再激光加工切割成50μm×50μm、间距10μm的正方形阵列,进行X射线平板探测器成像研究,并分别采用铅线对卡法和刀口法对陶瓷闪烁探测器的成像质量进行表征。结果表明:陶瓷闪烁体制备的平板探测器成像清晰锐利,铅线对卡法测试激光切割样品10 lp/mm下MTF可达17.5%。刀口法测试激光切割样品MTF为10%时,分辨率可达9 lp/mm。该闪烁陶瓷具有在平板探测器上应用的潜力。
胡辰1,2，刘书萍1,2，冯召东2,3,4，秦秀波3,4，石云1，潘裕柏1
1. 中国科学院上海硅酸盐研究所透明光功能先进无机材料重点实验室2. 中国科学院大学3. 中国科学院北京高能物理研究所技术应用研究中心4. 北京市射线成像技术与装备工程技术研究中心
摘 要：采用固相反应法结合真空烧结技术制备了具有高光学质量高闪烁效率的(Lu,Ce,Mg)3Al5O12(LuAG:0.3at%Ce,0.2at%Mg)闪烁陶瓷。将20 mm×20 mm×0.05 mm的陶瓷薄片用含有石墨粉的硅胶粘接在尺寸为25 mm×25 mm×4 mm的石墨基底上,再激光加工切割成50μm×50μm、间距10μm的正方形阵列,进行X射线平板探测器成像研究,并分别采用铅线对卡法和刀口法对陶瓷闪烁探测器的成像质量进行表征。结果表明:陶瓷闪烁体制备的平板探测器成像清晰锐利,铅线对卡法测试激光切割样品10 lp/mm下MTF可达17.5%。刀口法测试激光切割样品MTF为10%时,分辨率可达9 lp/mm。该闪烁陶瓷具有在平板探测器上应用的潜力。
关键词：LuAG:Ce,Mg;闪烁陶瓷;平板探测器;X射线成像;
