电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硼等13个杂质元素
来源期刊：理化检验-化学分册2005年第11期
论文作者：郑建国 张桂广 宋武元
关键词：ICP-AES; 纯硅; 13种杂质元素;
摘 要：研究了纯硅中微量和痕量杂质元素铝、钙、铁、锰、磷、铬、铜、镍、钛、钒、锆、砷和硼等电感耦合等离子体原子发射光谱( ICP-AES) 的同时测定方法,样品以硝酸、盐酸和氢氟酸挥硅处理方法,在样品处理过程中,加入适量的甘露醇能够抑制硼的挥发.在优化选定的仪器条件和介质中测定纯硅样品和纯硅标准样品.纯硅样品中13个杂质元素的回收率均在92.0% ～ 105.0%之间,相对标准偏差均小于5.0%.
郑建国1，张桂广2，宋武元1
(1.广州出入境检验检疫局,化矿金检测中心,广州,510623;
2.广东省韶关出入境检验检疫局,韶关,512023)
摘要:研究了纯硅中微量和痕量杂质元素铝、钙、铁、锰、磷、铬、铜、镍、钛、钒、锆、砷和硼等电感耦合等离子体原子发射光谱( ICP-AES) 的同时测定方法,样品以硝酸、盐酸和氢氟酸挥硅处理方法,在样品处理过程中,加入适量的甘露醇能够抑制硼的挥发.在优化选定的仪器条件和介质中测定纯硅样品和纯硅标准样品.纯硅样品中13个杂质元素的回收率均在92.0% ～ 105.0%之间,相对标准偏差均小于5.0%.
关键词:ICP-AES; 纯硅; 13种杂质元素;
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