H+辐照前后Mo涂层表面的XPS分析
来源期刊:功能材料2007年第2期
论文作者:黄宁康 汪德志 杜晓松 刘春海 杨斌
关键词:离子束混合; Mo薄膜; H+辐照; XPS分析;
摘 要:对离子束混合技术在不锈钢基体上沉积的钼膜进行了H+辐照前后的XPS分析,研究了H+辐照对钼膜的结合能的影响.分析结果表明,沉积的钼膜中除了单质钼外,还有部分钼的氧化物;H+辐照结果表明,H+的辐照使钼的结合能向低能方向偏移;钼的氧化物有所减少,说明污染的氧化物在一定程度上被择优溅射掉.
黄宁康1,汪德志1,杜晓松2,刘春海1,杨斌1
(1.四川大学,原子核科学技术研究所,教育部辐射物理及技术重点实验室,四川,成都,610064;
2.电子科技大学,光电信息学院,四川,成都,610054)
摘要:对离子束混合技术在不锈钢基体上沉积的钼膜进行了H+辐照前后的XPS分析,研究了H+辐照对钼膜的结合能的影响.分析结果表明,沉积的钼膜中除了单质钼外,还有部分钼的氧化物;H+辐照结果表明,H+的辐照使钼的结合能向低能方向偏移;钼的氧化物有所减少,说明污染的氧化物在一定程度上被择优溅射掉.
关键词:离子束混合; Mo薄膜; H+辐照; XPS分析;
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