火花源原子发射光谱法测定铁基非晶合金中高含量硅和硼
来源期刊:冶金分析2016年第4期
论文作者:赵涛 缪红
文章页码:34 - 38
关键词:火花源原子发射光谱;铁基非晶合金;硅;硼;
摘 要:介绍了火花源原子发射光谱在铁基非晶合金钢中Si、B元素含量测定方面的研究。通过对非晶合金钢中Si和B分析谱线强度稳定性的试验比较,确定了Si的分析谱线为212.41nm,B的分析谱线为345.14nm;通过预燃试验确立了分析Si、B的最佳预燃时间为13s。采用部分国际标样和研制的内控样品绘制Si和B的校准曲线,在扣除了元素干扰后进行了曲线拟合。用Si 212.41nm分析谱线绘制高含量Si(质量分数3.15%7.04%)的校准曲线,使原有软件中曲线范围拓宽为0.003%7.04%;用B 345.14nm分析谱线绘制高含量B(质量分数0.90%3.31%)的校准曲线,使B校准曲线范围拓宽为0.000 1%3.31%。用实验方法测定非晶合金样品中的Si和B含量,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均不超过1.0%;准确度试验结果表明实验方法的测定值与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的测定值具有较好的一致性。
赵涛,缪红
宝山钢铁股份有限公司研究院分析测试中心
摘 要:介绍了火花源原子发射光谱在铁基非晶合金钢中Si、B元素含量测定方面的研究。通过对非晶合金钢中Si和B分析谱线强度稳定性的试验比较,确定了Si的分析谱线为212.41nm,B的分析谱线为345.14nm;通过预燃试验确立了分析Si、B的最佳预燃时间为13s。采用部分国际标样和研制的内控样品绘制Si和B的校准曲线,在扣除了元素干扰后进行了曲线拟合。用Si 212.41nm分析谱线绘制高含量Si(质量分数3.15%7.04%)的校准曲线,使原有软件中曲线范围拓宽为0.003%7.04%;用B 345.14nm分析谱线绘制高含量B(质量分数0.90%3.31%)的校准曲线,使B校准曲线范围拓宽为0.000 1%3.31%。用实验方法测定非晶合金样品中的Si和B含量,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均不超过1.0%;准确度试验结果表明实验方法的测定值与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的测定值具有较好的一致性。
关键词:火花源原子发射光谱;铁基非晶合金;硅;硼;