应用粉末压片-X射线荧光光谱法检验铁矿石样品的均匀性

来源期刊：冶金分析2012年第5期

论文作者：王利杰 张健 杨志强 张东生

文章页码：40 - 44

关键词：X射线荧光光谱法;铁矿石;粉末压片;均匀性;方差分析;

摘    要：介绍了采用粉末压片制样,X射线荧光光谱法测定铁矿石样品中的化学成分,然后用方差分析法对测定结果进行统计检验的方法。实验使用铁精粉和磁铁矿按照1∶1的比例混合配制成1#和2#两个试验样品,经过研磨和压片后,在样品的4个水平（方向）上各测定5次,利用MINITAB软件对试验数据进行方差分析,结果表明1#样品不均匀,2#样品均匀。根据统计量F比值可知Fe元素的可靠性最好。同时,采用国家标准方法（GB/T 6730.5-2007）对1#和2#试验样品中TFe含量各测定10次,得到标准偏差分别为0.16%和0.044%,与该方法给出的实验室内标准偏差（0.055%）比较后,进一步证明了用本文的方法检验铁矿石样品的均匀性是可行的。