ICP-MS/MS直接测定高纯Eu2O3中超痕量的铥、砷、硅
来源期刊：中国稀土学报2016年第4期
论文作者：徐芝亮 吴海燕 张智怡 刘永林
文章页码：453 - 459
关键词：三重串联电感耦合等离子质谱（ICP-MS/MS）;高纯Eu2O3;铥、砷、硅;干扰;
摘 要：运用三重串联电感耦合等离子质谱（ICP-MS/MS）仪直接测定高纯Eu2O3中超痕量的Tm,As和Si。采用H2的原位质量法和O2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,8.268μg·L-1。在选定条件下,样品加标回收率为95.74%103.82%,相对标准偏差（RSD）为0.22%4.38%。本方法简单实用,能够满足纯度99.999%以上的高纯Eu2O3中杂质元素的快速测定。
徐芝亮1，吴海燕2，张智怡1，刘永林1
1. 江西省分析测试研究所2. 江西省农业科学院
摘 要：运用三重串联电感耦合等离子质谱（ICP-MS/MS）仪直接测定高纯Eu2O3中超痕量的Tm,As和Si。采用H2的原位质量法和O2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,8.268μg·L-1。在选定条件下,样品加标回收率为95.74%103.82%,相对标准偏差（RSD）为0.22%4.38%。本方法简单实用,能够满足纯度99.999%以上的高纯Eu2O3中杂质元素的快速测定。
关键词：三重串联电感耦合等离子质谱（ICP-MS/MS）;高纯Eu2O3;铥、砷、硅;干扰;
