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Li2O-V2O5-SiO2薄膜结构与电化学性能研究

来源期刊:功能材料2006年第9期

论文作者:赵胜利 文九巴 蔡羽 刘先年

关键词:无机非金属材料; Li2O-V2O5-SiO2; 脉冲激光沉积; 薄膜; 结构; 电化学性质;

摘    要:采用355nm脉冲激光沉积(PLD)法以Li6.16V0.61Si0.39O5.36为靶制备了Li2O-V2O5-SiO2薄膜.由X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、表面轮廓、交流阻抗(ACI)、直流极化(DCP)等方法对薄膜的形貌、结构及电化学性能进行表征,讨论了Li2O-V2O5-SiO2薄膜电化学性能与其结构的关系.结果表明,该薄膜是一种无针孔和裂缝、厚度均匀、组成致密的非晶态结构;Li2O-V2O5-SiO2薄膜离子电导率与温度符合Arrhenius关系,离子迁移数接近1.0(tion>99.999%),是一种性能良好的离子导体材料;Li2O-V2O5-SiO2薄膜室温时离子电导率达4.0×10-7S/cm,而电子电导率仅为10-11~10-12S/cm,可作为电解质材料用于全固态薄膜锂电池.

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Li2O-V2O5-SiO2薄膜结构与电化学性能研究

赵胜利1,文九巴1,蔡羽2,刘先年3

(1.河南科技大学,材料学院,河南,洛阳,471003;
2.河南科技大学,信息管理研究所,河南,洛阳,471003;
3.复旦大学,激光化学研究所,上海,200433)

摘要:采用355nm脉冲激光沉积(PLD)法以Li6.16V0.61Si0.39O5.36为靶制备了Li2O-V2O5-SiO2薄膜.由X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、表面轮廓、交流阻抗(ACI)、直流极化(DCP)等方法对薄膜的形貌、结构及电化学性能进行表征,讨论了Li2O-V2O5-SiO2薄膜电化学性能与其结构的关系.结果表明,该薄膜是一种无针孔和裂缝、厚度均匀、组成致密的非晶态结构;Li2O-V2O5-SiO2薄膜离子电导率与温度符合Arrhenius关系,离子迁移数接近1.0(tion>99.999%),是一种性能良好的离子导体材料;Li2O-V2O5-SiO2薄膜室温时离子电导率达4.0×10-7S/cm,而电子电导率仅为10-11~10-12S/cm,可作为电解质材料用于全固态薄膜锂电池.

关键词:无机非金属材料; Li2O-V2O5-SiO2; 脉冲激光沉积; 薄膜; 结构; 电化学性质;

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