三辛胺修饰碳糊电极测定电子引脚中的Cr(Ⅵ)
来源期刊：分析试验室2010年第2期
论文作者：陈智栋 邓雪爽 王文昌 周益明 许娟
文章页码：73 - 76
关键词：碳糊电极;三辛胺;Cr(Ⅵ);
摘 要：采用三辛胺（TOA）修饰碳糊电极（TOA/CPE）测定了Cr（Ⅵ）含量,并考察了最佳的实验条件。当富集时间为10 min,富集介质为0.15 mol/L H2SO4时,TOA/CPE能够有效地富集Cr（Ⅵ）。以溶出伏安法测定Cr（Ⅵ）,在-0.45 V（vs.SCE）处有灵敏的还原峰,峰电流与Cr（Ⅵ）浓度在5.0×10-71.0×10-3mol/L范围内呈现良好的线性关系。干扰试验显示TOA/CPE对Cr（Ⅵ）具有高选择性,能够在Cr（Ⅲ）浓度是Cr（Ⅵ）600倍时准确测定Cr（Ⅵ）,检出限达3.4×10-9mol/L（S/N=3）。TOA/CPE测定了实际样品电子引脚中的Cr（Ⅵ）,实验结果与紫外分光光度法结果一致。
陈智栋1,2，邓雪爽1，王文昌1，周益明3，许娟1,2
1. 江苏工业学院化学工程系2. 常州江工阔智电子技术有限公司3. 江苏省精细石油化工重点实验室
摘 要：采用三辛胺（TOA）修饰碳糊电极（TOA/CPE）测定了Cr（Ⅵ）含量,并考察了最佳的实验条件。当富集时间为10 min,富集介质为0.15 mol/L H2SO4时,TOA/CPE能够有效地富集Cr（Ⅵ）。以溶出伏安法测定Cr（Ⅵ）,在-0.45 V（vs.SCE）处有灵敏的还原峰,峰电流与Cr（Ⅵ）浓度在5.0×10-71.0×10-3mol/L范围内呈现良好的线性关系。干扰试验显示TOA/CPE对Cr（Ⅵ）具有高选择性,能够在Cr（Ⅲ）浓度是Cr（Ⅵ）600倍时准确测定Cr（Ⅵ）,检出限达3.4×10-9mol/L（S/N=3）。TOA/CPE测定了实际样品电子引脚中的Cr（Ⅵ）,实验结果与紫外分光光度法结果一致。
关键词：碳糊电极;三辛胺;Cr(Ⅵ);
