现代X射线荧光光谱仪的进展
来源期刊：冶金分析1999年第1期
论文作者：丁志强 谢荣厚 高新华 盛伟志
摘 要：近年来X射线荧光光谱分析有了长足的进步,特别在数据处理以及其关键部件,如X射线管、晶体等方面.分析检出限已达ng级,成为现代分析技术的一种重要手段.
丁志强1，谢荣厚2，高新华2，盛伟志1
(1.自动化研究所,北京,100071;
2.钢铁研究总院,北京,100081)
摘要:近年来X射线荧光光谱分析有了长足的进步,特别在数据处理以及其关键部件,如X射线管、晶体等方面.分析检出限已达ng级,成为现代分析技术的一种重要手段.
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