端视式全谱直读电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯氧化镧中稀土杂质
来源期刊：理化检验-化学分册2006年第10期
论文作者：陈奕睿 陈天裕 汪正
关键词：端视式全谱ICP-AES; CCD检测器; 直读式; 高纯氧化镧; 稀土氧化物杂质;
摘 要：电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定高纯氧化镧中14个稀土元素杂质,镧对其它稀土元素的光谱干扰比较严重,要求光谱仪单色器有较高的分辨率.使用端视式全谱直读ICP-AES仪,选择测定波长,工作参数优化,讨论了镧和酸度的影响.大部分稀土元素测定使用曲线拟合(FACT)的背景校正方法.该方法的稀土元素氧化物检出限达到3×10-4～0.022 mg·L-1(3σ).
陈奕睿1，陈天裕1，汪正1
(1.中科院,上海硅酸盐研究所,上海,200050)
摘要:电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定高纯氧化镧中14个稀土元素杂质,镧对其它稀土元素的光谱干扰比较严重,要求光谱仪单色器有较高的分辨率.使用端视式全谱直读ICP-AES仪,选择测定波长,工作参数优化,讨论了镧和酸度的影响.大部分稀土元素测定使用曲线拟合(FACT)的背景校正方法.该方法的稀土元素氧化物检出限达到3×10-4～0.022 mg·L-1(3σ).
关键词:端视式全谱ICP-AES; CCD检测器; 直读式; 高纯氧化镧; 稀土氧化物杂质;
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