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能量色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分

来源期刊:冶金分析2016年第6期

论文作者:刘洪涛 邵常丽

文章页码:69 - 72

关键词:铁矿石;压片制样;能量色散X射线荧光光谱;化学成分;经验系数法;

摘    要:采用压片制样-能量色散X射线荧光光谱测量铁矿石中11种组分(TFe、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、TiO2、CaO、Mn、Cu、Zn)。通过试验确定保持压力30MPa、时间30s的压片制样条件和样品的粒度为200目(74μm),同时,通过采用化学方法定值的生产样品应用于校准曲线的绘制,可最大程度地减少矿物效应和粒度效应对分析结果造成的影响。采用经验系数法进行谱线的重叠校正和组分间的吸收和增强效应校正,各组分校准曲线的相关系数均大于0.999。对同一个铁矿石样品进行精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.14%5.8%。对铁矿石实际样品进行正确度考察,测定值与滴定法测定全铁、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定其他元素的分析结果一致。实验方法尤其适用于大宗铁矿石样品的批量分析。

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能量色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分

刘洪涛1,邵常丽2

1. 山东钢铁集团日照分公司2. 山东钢铁集团莱芜分公司

摘 要:采用压片制样-能量色散X射线荧光光谱测量铁矿石中11种组分(TFe、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、TiO2、CaO、Mn、Cu、Zn)。通过试验确定保持压力30MPa、时间30s的压片制样条件和样品的粒度为200目(74μm),同时,通过采用化学方法定值的生产样品应用于校准曲线的绘制,可最大程度地减少矿物效应和粒度效应对分析结果造成的影响。采用经验系数法进行谱线的重叠校正和组分间的吸收和增强效应校正,各组分校准曲线的相关系数均大于0.999。对同一个铁矿石样品进行精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.14%5.8%。对铁矿石实际样品进行正确度考察,测定值与滴定法测定全铁、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定其他元素的分析结果一致。实验方法尤其适用于大宗铁矿石样品的批量分析。

关键词:铁矿石;压片制样;能量色散X射线荧光光谱;化学成分;经验系数法;

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