高角度环形暗场Z衬度像成像原理及方法
来源期刊：兵器材料科学与工程2002年第4期
论文作者：李鹏飞
关键词：Z衬度; 高角度环形暗场; 成像原理;
摘 要：通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果,其衬度取决于衍射束的相对相位关系.在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器,可以得到原子序数衬度像.介绍了高角度环形暗场(HAADF)的原子序数衬度(Z-衬度)像的成像原理及方法.
李鹏飞1
(1.内蒙古工业大学,材料科学与工程学院,呼和浩特市,010062)
摘要:通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果,其衬度取决于衍射束的相对相位关系.在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器,可以得到原子序数衬度像.介绍了高角度环形暗场(HAADF)的原子序数衬度(Z-衬度)像的成像原理及方法.
关键词:Z衬度; 高角度环形暗场; 成像原理;
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