不同生长条件下合成的金刚石晶体缺陷的特征研究
来源期刊:超硬材料工程2007年第6期
论文作者:张明 于万里 罗永安 贾晓鹏 马红安 臧传义 黄万霞 袁清习 朱佩平
文章页码:23 - 29
关键词:合成金刚石;同步辐射;形貌像;晶体缺陷;
摘 要:采用同步辐射白光貌相术对四组采用不同生长条件合成的金刚石晶体进行了研究,分析了四组金刚石晶体内部缺陷的形貌特征,并对部分缺陷的特征量进行了计算。不同生长条件下合成的金刚石样品不仅颜色、晶形不同,晶体内部的缺陷类型和分布特征也明显不同。A组样品中的晶体缺陷以起源于籽晶表面的位错为主,少量位错起源于晶体的内部。局部存在层错,个别晶体具有孪晶界、片状应力区和生长带。在B组和C组样品中存在的主要缺陷为生长带。D组样品中的晶体缺陷主要为生长带和位错束。研究结果表明,同种生长条件合成的金刚石晶体缺陷特征具有相似性,而不同生长条件合成的金刚石晶体缺陷则具有较大的差异。
张明1,于万里1,罗永安1,贾晓鹏2,马红安2,臧传义2,黄万霞3,袁清习3,朱佩平3
1. 燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室2. 吉林大学超硬材料国家重点实验室3. 中国科学院高能物理研究所
摘 要:采用同步辐射白光貌相术对四组采用不同生长条件合成的金刚石晶体进行了研究,分析了四组金刚石晶体内部缺陷的形貌特征,并对部分缺陷的特征量进行了计算。不同生长条件下合成的金刚石样品不仅颜色、晶形不同,晶体内部的缺陷类型和分布特征也明显不同。A组样品中的晶体缺陷以起源于籽晶表面的位错为主,少量位错起源于晶体的内部。局部存在层错,个别晶体具有孪晶界、片状应力区和生长带。在B组和C组样品中存在的主要缺陷为生长带。D组样品中的晶体缺陷主要为生长带和位错束。研究结果表明,同种生长条件合成的金刚石晶体缺陷特征具有相似性,而不同生长条件合成的金刚石晶体缺陷则具有较大的差异。
关键词:合成金刚石;同步辐射;形貌像;晶体缺陷;