方差分析两两比较法在光谱分析用块状标准样品单元内均匀性检验中的应用
来源期刊：理化检验-化学分册2019年第10期
论文作者：张增坤 刘鹏 梁红艳
文章页码：1208 - 1211
摘 要：<正>标准样品预期用途只使用单元的一部分,单元的表面是使用部分,应说明单元内均匀性的影响[1]。光谱分析用块状标准样品的使用区域是表面部分,因此,应对单元内的均匀性进行考察。块状标准样品的均匀性检验一般采用单因素方差分析法[2-4]、双因素方差分析法[5]或极差法[6],这些评价均匀性方
张增坤，刘鹏，梁红艳
摘 要：<正>标准样品预期用途只使用单元的一部分,单元的表面是使用部分,应说明单元内均匀性的影响[1]。光谱分析用块状标准样品的使用区域是表面部分,因此,应对单元内的均匀性进行考察。块状标准样品的均匀性检验一般采用单因素方差分析法[2-4]、双因素方差分析法[5]或极差法[6],这些评价均匀性方
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