密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究
来源期刊：无机材料学报2008年第1期
论文作者：黄月鸿 杨传铮 程国峰
关键词：ZnO; 晶粒大小; 层错几率; X射线衍射(XRD);
摘 要：X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hk0、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.
黄月鸿1，杨传铮2，程国峰1
(1.中国科学院,上海硅酸盐研究所,上海,200050;
2.中国科学院,上海微系统与信息技术研究所,上海,200050)
摘要:X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hk0、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.
关键词:ZnO; 晶粒大小; 层错几率; X射线衍射(XRD);
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