X射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用(上)

来源期刊：冶金自动化2011年第1期

论文作者：马竹梧

文章页码：1 - 5

关键词：X射线测厚仪； 厚度控制； 板形

Key words：X-ray thickness meter； thickness control； shape

摘    要：主要叙述X射线测厚仪的工作原理,分析射线强度、统计误差以及被测物的材质、温度、表面附着水层、倾斜角度等对测厚精度的影响及其克服方法。叙述包括X射线管、检测元件、控制电路、测量方式以及计算机应用等的进展。最后介绍X射线测厚仪的组成、主要性能的实例和在国内的使用情况,说明建立X射线测厚仪产业的必要性并给出建立方法的建议。

Abstract: Principle of X-ray thickness measuring meter is introduced.Influence of ray intensity,statistic error,different material,temperature,surface water layer and inclination angle etc.are analyzed,and solution method is given.Besides,progress in X-ray tube,measuring cell,control circuit,measuring method and computer application ect.are presented.Composition,main functions and use experience of X-ray thickness meter are described.At last,necessity and how to establish X-ray thickness meter industry are suggested.