简介概要

密度校正法测定金饰品中的金

来源期刊:矿产勘查1998年第3期

论文作者:折书群

文章页码:3 - 5

关键词:X射线荧光分析;密度校正;

摘    要:通过研究共存元素及基体效应,提出了用X射线荧光密度校正法(XRF)无损检测金饰品中的金。该方法测定金的含量范围为10%~99%,精密度为0.2%。

详情信息展示

密度校正法测定金饰品中的金

折书群

石家庄黄金白银质量监督检验站

摘 要:通过研究共存元素及基体效应,提出了用X射线荧光密度校正法(XRF)无损检测金饰品中的金。该方法测定金的含量范围为10%~99%,精密度为0.2%。

关键词:X射线荧光分析;密度校正;

<上一页 1 下一页 >

相关论文

  • 暂无!

相关知识点

  • 暂无!

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号