简介概要

稀释剂粉末压片-X射线荧光光谱法测定锑矿石中锑及主量组分

来源期刊:中国无机分析化学2016年第1期

论文作者:王干珍 王子杰 郭腊梅 严慧

文章页码:22 - 25

关键词:X射线荧光光谱法;锑矿石;稀释剂粉末压片法;

摘    要:利用X射线荧光光谱仪结合稀释剂粉末压片法来测定锑矿石中锑及主量组分。通过稀释剂的加入,减弱了样品的基体效应。人工配制了一系列具有浓度梯度的样品来解决标准样品个数偏少的问题。方法简便、实用,具有较高的精密度和准确度,测定结果满足实际工作需要。方法的相对标准偏差(RSD)为0.19%~2.0%,与常规分析结果基本一致。

详情信息展示

稀释剂粉末压片-X射线荧光光谱法测定锑矿石中锑及主量组分

王干珍,王子杰,郭腊梅,严慧

湖南省地质测试研究院

摘 要:利用X射线荧光光谱仪结合稀释剂粉末压片法来测定锑矿石中锑及主量组分。通过稀释剂的加入,减弱了样品的基体效应。人工配制了一系列具有浓度梯度的样品来解决标准样品个数偏少的问题。方法简便、实用,具有较高的精密度和准确度,测定结果满足实际工作需要。方法的相对标准偏差(RSD)为0.19%~2.0%,与常规分析结果基本一致。

关键词:X射线荧光光谱法;锑矿石;稀释剂粉末压片法;

<上一页 1 下一页 >

相关论文

  • 暂无!

相关知识点

  • 暂无!

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号