X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷
来源期刊：冶金分析2005年第4期
论文作者：甄洪香 徐增芹 葛镧
关键词：偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪; 生铁; 次级靶;
摘 要：探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法.该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min.
甄洪香1，徐增芹1，葛镧1
(1.济南钢铁集团总公司技术监督处,山东,济南,250101)
摘要:探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法.该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min.
关键词:偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪; 生铁; 次级靶;
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