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X-射线荧光光谱法测定磷矿中五氧化二磷、氧化钙、三氧化二铁、氧化铝、氧化镁和二氧化硅

来源期刊:冶金分析2006年第6期

论文作者:李丙祥 柳天舒 朱登峻 朱金连 王宁伟 徐亮

关键词:X-射线荧光光谱仪; 熔融玻璃片; 磷矿石; P2O5; CaO; Fe2O3; Al2O3; MgO; SiO2;

摘    要:采用四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[m(Li2B4O7)∶m(LiBO2)=12∶22]熔融磷矿样品制成玻璃样片,用波长色散X-射线荧光光谱仪测定样片中P2O5,CaO,Fe2O3,Al2O3,MgO和SiO2含量.用磷矿标样经同法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线.用本法对一试样测定11次,得到各组分的相对标准偏差小于1.2%.本法已用于磷矿样品分析,测定结果与化学法一致.

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X-射线荧光光谱法测定磷矿中五氧化二磷、氧化钙、三氧化二铁、氧化铝、氧化镁和二氧化硅

李丙祥1,柳天舒1,朱登峻1,朱金连1,王宁伟1,徐亮1

(1.镇江出入境检验检疫局综合技术中心,江苏镇江,212008)

摘要:采用四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[m(Li2B4O7)∶m(LiBO2)=12∶22]熔融磷矿样品制成玻璃样片,用波长色散X-射线荧光光谱仪测定样片中P2O5,CaO,Fe2O3,Al2O3,MgO和SiO2含量.用磷矿标样经同法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线.用本法对一试样测定11次,得到各组分的相对标准偏差小于1.2%.本法已用于磷矿样品分析,测定结果与化学法一致.

关键词:X-射线荧光光谱仪; 熔融玻璃片; 磷矿石; P2O5; CaO; Fe2O3; Al2O3; MgO; SiO2;

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