X射线衍射法测定分子筛晶胞参数与结晶度
来源期刊：理化检验物理分册2002年第7期
论文作者：沈春玉 李雪萍 储刚
关键词：晶胞参数; 结晶度; NaY分子筛; 硅铝比;
摘 要：用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度,再与29Si和27Al固体魔角核磁共振谱仪所测定的NaY分子筛骨架中的硅铝比进行关联,得到了X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的经验公式,达到了测定NaY分子筛骨架中硅铝比的要求.试验结果表明,测定NaY分子筛晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理,使其饱和吸水,比通常采用的化学方法省时,结果准确,重复性好.
沈春玉1，李雪萍1，储刚1
(1.抚顺石油学院应用化学系,抚顺,113001)
摘要:用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度,再与29Si和27Al固体魔角核磁共振谱仪所测定的NaY分子筛骨架中的硅铝比进行关联,得到了X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的经验公式,达到了测定NaY分子筛骨架中硅铝比的要求.试验结果表明,测定NaY分子筛晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理,使其饱和吸水,比通常采用的化学方法省时,结果准确,重复性好.
关键词:晶胞参数; 结晶度; NaY分子筛; 硅铝比;
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