X射线荧光光谱法测定海洋沉积物中二氧化硅的测量不确定度评定

来源期刊：冶金分析2014年第10期

论文作者：李强 张学华 黄雪华

文章页码：78 - 82

关键词：不确定度评定;质控图法;二氧化硅;X射线荧光光谱法;

摘    要：目前,基于《测量不确定度表述指南》（GUM）的bottom-up技术是测量不确定度评定的主流方法,但是评定步骤烦琐,容易遗漏或重复计算不确定度分量,某些复杂过程的不确定度分量难以量化,应用于化学检测实验室的测量不确定度评定存在局限。依据新国标GB/T27411-2012提出的top-down法,探讨了质控图法在评定海洋沉积物中SiO2的测量不确定度中的应用。利用2013年实验室日常分析质控样海洋沉积物国家标准物质GBW07309中SiO2的监控数据进行评定,正态统计量A2*（s）和A2*（MR）分别为0.870和0.787,精密度检验SR′小于0.254,偏倚检验|x--RQV|小于0.40,单值图和移动极差控制图没有失控点,整个测量系统处于统计受控状态,基于移动极差平均值的SR′即为测量不确定度。此法比GUM方法更为实用和简单,在X射线荧光光谱分析领域测量不确定度的评定方面具有重要的应用前景。