三氧化二铝中杂质氧化铁和氧化矽的光谱定量分析

来源期刊：有色金属工程1956年第8期

论文作者：赵锦玲 王惠全

文章页码：30 - 32

摘    要：<正> 一、试验目的三氧化二铝是电解法生产铝的基本原料,要求其具有较高的纯度,因而准确地分析其中杂质氧化铁和氧化矽的含量就有重要的意义。目前所采用的化学分析方法不仅手续繁复、时间冗长、而且药材消耗量多准确度也不够高,因而有采用光谱分析方法的必要。关于用光谱分析方法测定三氧化二铝中杂质的问题,1955年中国科学院分析报告会上盧之锦等同志曾提出过用直流电弧为光源并采用加入绥冲剂的方法,但手续仍然不够简便,不适于在工厂实验室的条件下工作。为了要在工厂实验室的条件和要求下,使用简便准确的方法来测定三氧化二铝中的杂质,我们