微波铁氧体的可靠性研究

来源期刊：磁性材料及器件2011年第4期

论文作者：邵峰 郑振中 蒋华峰

文章页码：45 - 48

关键词：微波铁氧体;可靠性;饱和磁化强度;铁磁共振线宽;介电损耗角正切;

摘    要：采用陶瓷氧化物工艺制备了纯YIG和小线宽YIG样品,设计了高温寿命、温度冲击和稳态湿热等三组环境试验,测量了样品的饱和磁化强度Ms,介电损耗角正切tanδε及铁磁共振线宽ΔH。实验结果表明,Ms对环境的适应性较好,而ΔH和tanδε受环境影响较大,尤其是tanδε受环境影响最大。总体而言,小线宽YIG材料的性能随环境变化大于纯YIG材料,这可能是离子取代引起的。对材料性能变化而言,三种试验中,高温湿热的影响最明显,高温次之,而温度冲击最弱。