锡(Ⅱ)增敏四环素体系导数荧光法测定铕及其增敏机理的探讨
来源期刊：冶金分析1999年第3期
论文作者：黄汉国 张俊杰 李红霞
关键词：铕; 四环素; 锡; 导数荧光法;
摘 要：研究了锡(Ⅱ)对铕-四环素体系中铕的荧光增敏作用,对其增敏机理进行了探讨,并进一步研究了该体系荧光法测定铕的最佳测定条件.该体系测定铕的检测限为0.02μg/L,无锡存在时,铕的检测限为0.09μg/L.锡(Ⅱ)使铕的荧光检测限降低了4.5倍,用一级导数荧光法,使铕的荧光检测限进一步降低到0.011μg/L.成功地测定了混合稀土氧化物中铕的含量.
黄汉国1，张俊杰1，李红霞1
(1.河北理工学院化工系,唐山,063009)
摘要:研究了锡(Ⅱ)对铕-四环素体系中铕的荧光增敏作用,对其增敏机理进行了探讨,并进一步研究了该体系荧光法测定铕的最佳测定条件.该体系测定铕的检测限为0.02μg/L,无锡存在时,铕的检测限为0.09μg/L.锡(Ⅱ)使铕的荧光检测限降低了4.5倍,用一级导数荧光法,使铕的荧光检测限进一步降低到0.011μg/L.成功地测定了混合稀土氧化物中铕的含量.
关键词:铕; 四环素; 锡; 导数荧光法;
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