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K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量

来源期刊：云南冶金2017年第6期

论文作者：高珺胡耀东

文章页码：48 - 51

关键词：X射线衍射;K值法;工业硅粉;二氧化硅;

摘要：采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量,结果表明,使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析,可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量,能对工业硅粉中硅石掺假现象进行监督防治,是一种切实有效的检测方法。

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高珺，胡耀东

昆明冶金研究院

关键词：X射线衍射;K值法;工业硅粉;二氧化硅;