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图案几何参数对硅晶圆片表面吸收率的影响

来源期刊:东北大学学报(自然科学版)2011年第5期

论文作者:王爱华 蔡九菊

文章页码:687 - 690

关键词:时域有限差分法;等效介质理论;吸收率;图案晶圆片;

摘    要:利用时域有限差分法(FDTD)研究了晶圆片中SiO2沟槽尺寸变化对其表面吸收率的影响.同时利用等效介质理论(EMT)对预测结果进行了进一步解释分析.计算结果表明,次波长光栅时,EMT可以很好地预测光谱吸收率的变化;当SiO2沟槽宽度增加时腔共振效应提高了晶圆片表面的吸收率;当光栅周期与入射波长大小相当且填充比不是很小时,吸收率曲线在短波长区会出现较为强烈的震荡.

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图案几何参数对硅晶圆片表面吸收率的影响

王爱华,蔡九菊

东北大学国家环境保护生态工业重点实验室

摘 要:利用时域有限差分法(FDTD)研究了晶圆片中SiO2沟槽尺寸变化对其表面吸收率的影响.同时利用等效介质理论(EMT)对预测结果进行了进一步解释分析.计算结果表明,次波长光栅时,EMT可以很好地预测光谱吸收率的变化;当SiO2沟槽宽度增加时腔共振效应提高了晶圆片表面的吸收率;当光栅周期与入射波长大小相当且填充比不是很小时,吸收率曲线在短波长区会出现较为强烈的震荡.

关键词:时域有限差分法;等效介质理论;吸收率;图案晶圆片;

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