残余应力测定的基本知识——第四讲 X射线应力测定方法(三)
来源期刊：理化检验物理分册2007年第9期
论文作者：吕克茂
摘 要： 5辐射、衍射晶面与应力常数5.1辐射和滤波片X射线管发射的X射线分为连续谱线和标识谱线(图19).X射线衍射分析使用标识谱线.当X射线管电压达到并超过靶材的激发电压VK时,来自阴极的高速电子具有了充分的动能,能够撞出靶原子内层(例如K层)电子而产生空穴,原子处于激发状态,外层(例如L和M层)电子向空穴跃迁,以使原子恢复常态;跃迁电子的能级之差以X光量子的形态辐射出来,便是标识谱线.
吕克茂1
(1.邯郸爱斯特应力技术研究所,邯郸,056000)
摘要: 5辐射、衍射晶面与应力常数5.1辐射和滤波片X射线管发射的X射线分为连续谱线和标识谱线(图19).X射线衍射分析使用标识谱线.当X射线管电压达到并超过靶材的激发电压VK时,来自阴极的高速电子具有了充分的动能,能够撞出靶原子内层(例如K层)电子而产生空穴,原子处于激发状态,外层(例如L和M层)电子向空穴跃迁,以使原子恢复常态;跃迁电子的能级之差以X光量子的形态辐射出来,便是标识谱线.
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