扫描道代替固定道作内标通道分析铁矿石——X射线荧光光谱分析

来源期刊：理化检验-化学分册2014年第4期

论文作者：李国

文章页码：503 - 504

摘    要：<正>铁矿石是钢铁企业生产所需的主要原料,铁含量的高低直接影响到企业的经济利益,因此,对全铁分析结果的准确性要求较高。由于X射线荧光光谱法具有快速、简便、准确的优点,已被各大钢铁公司广泛用于铁矿石的测定。在日常测定铁粉中全铁含量时发现,由于熔融灼减和共存元素的干扰,导致全铁分析结果不稳定,常会出现超出国家标准分析方法误差范围的记录。文献[1]报道钴作内标可以解决此问题。钴元素与铁元素的原子序数相邻,其